沉积岩流体包裹体显微测温

1、沉积岩流体包裹体显微测温原理:

将岩石制成薄片,置于冷热台中,再将冷热台置于显微镜下。控制冷热台温度的升降,用均一法测定气液包裹体的形成温度,用冷冻法测定盐水溶液的冰点。

1.1 均一法原理:

选取气—液二相包裹体(捕获时为单一相的包裹体)。热台加热到某一温度时气—液二相转变为一相,恢复包裹体形成时的相态。恢复时的瞬间温度即为该包裹体均一温度。

1.2 冷冻法原理:

测定包裹体液相的冰点Tm。利用不同浓度的盐水溶液具有不同冰点的原理,根据所测包裹体的冰点即可应用相应的相图求出包裹体的液相盐度。对于NaCl—H2O体系溶液的包裹体,通常用相当的NaCl溶液百分浓度,即Wi(NaCl)来表示。可用以下公式计算出包裹体盐度:

Wi(NaCl)= -1.76958D – 0.042384D2 – 0.00052778D3

式中:

Wi(NaCl)— 相当于NaCl溶液百分浓度,即盐度,无因次;

D—冰点,单位为摄氏度(℃)。

2、仪器和材料

2.1荧光显微镜:带长焦距物镜,紫-紫外荧光系统和蓝色荧光系统

2.2热台:最高温度应不低于300℃,分辨率1℃

2.3冷台:温度应达-100℃以下,分辨率0.2℃

2.4校正标准:应为分析纯及分析纯以上的物质或包裹体标样。常用的几种化合物的熔点参见表A.1。包裹体标样温度参考制造单位给定的温度值。

3、制片要求

3.1取样:根据送样要求切片。

3.2胶固:用“502”胶或“501”胶进行胶固

3.3磨平面

3.4平面抛光:将磨好平面的岩样在抛光机上用抛光液抛光,至平面光亮如镜为止

3.5粘片:用固体冷杉胶粘片,或“501”或“502”胶粘片。

3.6磨片:将粘好在载物片上的岩样在磨片机上用100号、120号金刚砂与水混合粗磨薄片,再分别用280号、W20号金刚砂与水混合在磨片机上逐级细磨薄片,最后分别用W10号、W7号、W5号金刚砂与水混合在玻璃板上精磨薄片。岩石矿物粒度大于2mm时,薄片厚度要求为0.1mm~1mm;岩石矿物粒度小于或等于2mm时,薄片厚度要求为0.05mm~0.1mm

3.7岩片抛光

3.8溶取岩片:将需要溶取的岩片在酒精灯上慢慢加温,用医用镊子轻轻将岩片推到载玻片的一端,慢慢取下,放入盛有酒精的烧杯中,用毛笔轻轻刷净岩片,然后将薄片取出即可;用“501”、“502”胶粘的岩片使用丙酮泡取。

4、流体包裹体分类

按成因分类:继承性包裹体、成岩流体包裹体

按成分分类:盐水包裹体、烃包裹体

按相态分类:单相流体包裹体(纯气态包裹体、纯液态包裹体、固态包裹体)、二相包裹体、多相包裹体

5、流体包裹体鉴定内容

5.1流体包裹体显微特征

(1)赋存矿物特征描述

(2)流体包裹体的发布特征、形态、大小、丰度

(3)流体包裹体的相态、成分、气液比、类型

(4)烃包裹体的颜色、相态、荧光特征

(5)烃包裹体的期次

(6)烃包裹体的GOI、EGOI

(7)包裹体的后生变化

5.2烃包裹体伴生盐水包裹体的判断

5.3 测温包裹体选择

6、流体包裹体显微测温流程

6.1冷热台校正

6.1.1热台校正

标样温度误差不超过±1℃的不做校正,超过±1℃的应进行热台温度校正

6.1.2冷台冰点校正

标准冰点误差不超过±0.2℃的不做校正,超过±0.2℃的应进行冷台温度校正

6.2均一温度测定

将包裹体薄片放入热台,调节显微镜使之聚焦找到欲测包裹体,控制升温速度在3℃/min~10℃/min,在包裹体接近均一时,升温速度为小于2℃/min。观察流体包裹体的气相或液相消失时的温度,即为均一温度。重复操作两至三次,取平均数,要求填写测定记录。

6.3冰点测定

使冷热台降温至包裹体完全冻结,随后使温度逐步回升,在接近最后一块冰晶消失前,使升温速率降至0.5℃/min~1.0℃/min,记录包裹体最后一块冰晶消失时的温度,即冰点。重复操作两至三次,取平均读数,要求填写测定记录。

6.4初熔点测定

使冷热台降温至包裹体完全冻结,随后使温度逐步回升,在使升温速率降至0.5℃/min~1.0℃/min,记录包裹体冰晶刚开始熔化时的温度,即初熔点。重复操作两至三次,取平均读数,要求填写测定记录。

7、质量要求

7.1仪器校正质量要求

仪器一年至少校正一次,仪器搬动后需要进行校正,用标样校正时,每一次校正选择同一个标样。

7.2均一温度质量要求

包裹体平行测定均一温度绝对偏差应不大于2℃

7.3冰点质量要求

同一包裹体平行测定冰点绝对偏差应不大于0.2℃

8、提交检测报告

9、执行标准:

《SY/T6010—2011沉积盆地流体包裹体显微测温方法》